一、产品简介
测量光致非线性折射率是研究介质三阶非线性光学性质的重要手段，而测量非线性折射率的方法已有很多：非线性干涉技术、简并四波混频、自衍射、椭偏术及光束畸变测量等。20 世纪 90 年代初发展起了一种 Z 扫描法，这种测量方法不仅可以用单光束测量，而且可以用同一装置测出非线性折射率和非线性吸收系数，即三阶非线性极化率的实部和虚部，因而受到人们的青睐。
二、知识点
非线性吸收、三阶非线性效应、光克尔效应、光束的自聚焦
三、涉及课程
非线性光学、光电检测、工程光学、应用光学、物理光学
四、 实验内容
1、 Z 扫描法测量非线性折射率系数
2、Z 扫描法测量非线性吸收系数
五、实验配置
半导体激光器、双凸透镜、可调光阑、非线性晶体、一维电控平移台、电控平移台控制器、半透半反镜、探测器、面包板、测量软件、实验讲义等。
备注：本实验需配置电脑，学校可自行配置，亦可由我司代购，价格另计
公司地址：同城约茶电话,同城约茶服务联系方式，
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